ESD vs. EOS

EOS (Electrical Overstress, EOS)의 한 가지 큰 문제는 사람들이 이 말을 다른 방식으로 사용한다는 사실이다.
 

 

ESD와 EOS 용어를 섞어서 사용하는 경우도 많아, 아래 표에 정리했다. 

 

 

 

EOS 의 중요성

전자업계에서 많은 불량은 EOS가 원인일 수있다. ESD는 지난 몇 년 동안 많은 관심을 받았으나 ESD는 전체 EOS 불량의 극히 일부에 불과하다.

 

 

Absolute Maximum Rating (AMR) and Electrical Overstress (EOS)

 

 

출처 : https://www.esda.org/assets/Uploads/ProductDownloads/White-Paper-4-Understanding-Electrical-Overstress.pdf

 

 

 

A는 기기가 예상대로 작동할 수 있는 안전한 작동 구역이다.
B영역은 기기가 정상적으로 작동하도록 보장하지 않는다.

B 영역에서는 물리적 손상이 발생하지 않을 것으로 예상되지만, 기기를 이 지역에서 장기간 작동할 경우 신뢰성 문제가 발생할 수 있다.
B의 상한은 AMR을 나타낸다. 이 지점을 벗어나 기기를 작동할 경우 문제가 발생한다.
C는 잠재적 고장을 유발하는 전기 과압의 첫 번째 영역이다.
D는 즉각적인 손상을 유발하는 전기 과압의 두 번째 영역이다.

 

 

 

유형별 고장 개수, 출처 :https://incompliancemag.com/article/rethinking-electrical-overstress/

 

 

 

 

EOS으로부터  장치 보호

 ESD 보호 조치는 민감한 기기를 EOS로부터 보호하는 데 있어 무용지물이다. 즉, ESD 보호를 강화한다고 해서 EOS가 좋아지지 않는다.

"EOS 고장 원인의 위험, 개선 및 완화는 공급자와 고객 간의 더 나은 커뮤니케이션을 통해서만 진전될 것이다. 여기에는 AMR에 대한 적절한 이해, 그에 대한 현실적인 규격, EOS 손상 사고의 근본 원인 찾기, 현장 및 시스템 애플리케이션 문제 파악 등이 포함된다."